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高光譜異物綜合檢測系統

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高光譜異物檢測系統（HIS-6000D）

l使用X射線，視覺和高光譜技術進行多次檢查
- X射線：使用密度差篩選出硬雜質
- 視覺：利用色差篩選出雜質
- 高光譜：使用化學差來區分硬雜質和軟雜質

l適用于檢查使用不同顏色和成分的混合原料

l通過高速皮帶分揀提高生產率

l通過使用多排空氣噴射剔除器減少產品損失

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